FEI Quanta 650 FEG 场发射扫描电子显微镜(EBSD、EDS)
发布时间：2018-12-11 点击数：
技术指标：
1.二次电子分辨率：1.0nm（30kV），1.0nm（15kV）；
2.电子枪：热场发射电子源；
3.加速电压：200V ～ 30kV；
4.放大倍率：20-30万倍。
5.样品台移动范围：X=Y=150mm。
主要功能：
1.金属、非金属及复合材料表面形貌、组织结构的观察分析及照相。
2.纳米材料：纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量统计。
3.微区成分的定性、定量计算，并对重点区域做元素分布图。
4. 金属试样的EBSD分析，进行显微物相分析、织构分析。
5.颗粒样品粒径、面积、周长、圆度的测量，提供粒度分布图，并可对孔径样品做孔径
技术特色:
1.完全数字化系统控制，Windows操作系统；
2.场发射环境扫描系统兼顾高分辨和样品多样性；
3.数字电影功能可将观察过程记录为avi视频文件；
4.稳定的大束流(最大200nA)确保高速、准确的能谱、EBSD分析；
5.可安装冷台、加热台、拉伸台等进行样品原位、动态观察和分析。
